研究與試制抗干擾用厘型金屬化聚丙烯薄膜電容器的15師向虎，楊曉舟8上海中獅電子有限公司，上海201206阻大小芯子的錯邊噴金粒子的大小噴金前芯子端面上的灰塵是導致電容器芯子在經過賦能，成品耐電壓試驗，脈沖電壓試驗后15變大的主要原因在這類電容器制造過程中應嚴格控制這些因素8抗干擾電容器主要應用于電子和電器設備中降低電源負載和設備之間的相互干擾，它必須能承受諸如閃電弓1起的高電壓的沖擊。

　　制作抗干擾用MKP型金屬化聚丙烯薄膜電容器有相當的工藝難度。如何在生產中控制該電容器的電5，直是要解決的主要工藝問。筆者簡要探討這類電容器鱸的主要影響因素及工藝問。

　　抗干擾電容器的通用標準是正038414.這類電容器有跨接型又類或尺0組件摟地型抗干擾電容器類或厭0組件。

　　又類電容器或厭，組件適用于當其失效時不會導致電沖擊危險的場合。這類電容器按疊加到電源電壓上的脈沖電壓值大小分為類又沿和又3.類電容器或組件適用于電容器失效時會導致電沖擊危險的場合。

　　這里以抗干擾用類型金屬化聚丙烯薄膜電容器以下簡稱X2類MKP型抗干擾電容器為例進行討論I 1類型抗干擾電容器的結構與技術指標1.1結構52類型抗干擾電容器般是采用鋁金屬化聚丙烯膜卷制芯子，先噴鋅后噴鋅錫，用塑料外殼，通過環氧樹脂灌注而成。或者是由鋅鋁復合金屬化聚丙烯薄膜卷制芯子，先噴鋅鋁后噴鋅錫。其結構12，其薄膜采用邊緣加厚結構。

　　1.2主要技術指標加強邊蠓極間絕緣電阻0.33極間試驗電壓741也2300 2極間耐電壓試驗額定電容量103該電容器在耐久性試驗前應在極間施加24次相同極性的脈沖電壓進行試驗，試驗應無永久擊穿或飛弧，而且有次或更多次的波形明未發生自愈性擊穿。對于電容量不超過10尸振蕩的峰峰脈沖電壓叫應不大于峰值脈沖電壓的3.為確保該電容器的質量，在制造過程中焊接前的芯子要分別經過030電壓和2600的階梯直流電壓電子有限公司工作，現任新產品開發工程師。說。楊曉舟1969，男，河南南陽人，碩士。現為公電子元件與材料2001年6月7壓的耐電壓試驗，出廠前要抽測適量的成品進行3波形的3次試驗，而試驗后屯5100扭2的增量不能超過規定值。

　　在制造過程中如果工藝不良電容器的培就會在賦能后或成品耐電壓試驗后，或者在抽測試驗后變大而失效。因此，在生產過程中就要長嚴格控制1藝，從而達訓控制秘的目的1 3電容器的15從基礎理論可知，當電容器的固有電感小到可以忽略時，電容器的損耗由部分組成，即主要介質損耗每4輔助介質損耗15.漏尉員牦擔4以及金屬似6與它們之間的接觸損牦喊，類抗干擾電容器由于不進行涂覆，只用環氧樹脂灌注，因此可不考慮輔助介質損耗屯各在常溫1或10，扭2頻率條件下用，130儀測試時，分析損耗問般可以不考。慮漏導損耗151.因此主要分析18各和18在1 3.1介質損耗扭各52類型抗干擾電容器的介質是聚丙烯薄膜，般情況下聚丙烯膜的151在1扭2201；條件下測試約為1.5，210但隨著溫度的升高而減小；隨著頻率的升高而增大，其變化甚微。在電容器的制造過程中，般無法改進電容器介質本身的龜各，因此，在分析電容器的185時，如果測試頻率定則可以不考慮龜各的變化。

　　3.2金屬損耗及接觸損耗屯薄膜方阻大小，芯子錯邊薄膜金屬層縱向劃傷噴金粒子太大芯子端面噴金層不完全弓線虛焊噴金前芯子端面的灰塵等都是引起龜5在賦能后，或耐電壓試驗后，或抽樣脈沖電壓試驗后增大的重要原因。這部分我們著重討論。

　　3.2.1金屬損耗金屬損耗包括電容器的電極損耗噴金層的損耗和引線器芯子的結構。方阻越大，損耗越大；長而細的芯子，損耗也就比較大。又2類抗干擾電容器采用邊緣加厚金屬化聚丙烯薄膜，鋁蒸發膜般邊緣部分的方阻小于2邙口，其余部分為36口鋅鋁蒸發膜般邊緣部分的方阻小于30口，其余部分為712邙口。選擇適當方阻的金屬化薄膜非常重要。這是因為方阻大，金屬膜就薄，電容器的自愈性能雖好，但電容器的極板損耗將會變大，使1目41較大。而且在這種情況下金屬膜的載流能力也小，使用時就可能發熱，嚴重時將導致電容器發熱失效。尤其是電容器的端面部分，電流密度比較大，方阻太大也就是說金屬膜太薄時，噴金層與薄膜的金屬膜之間的接觸點將會因不能承受如此大的電流逐漸開路，導致電不斷地增大而使135增大而失效。相反，如方阻小，51也就相應小。但方阻太小，電容器的自愈性能就較差。這是因為方阻小，金屬膜就厚，在自愈過程中需要的能量就大，使自愈點溫度太高，在該點就有可能使臨近的薄膜引起新的自愈，嚴重時會使該自愈點連續引起新的臨近的膜自愈，比較后導致薄膜大面積擊穿熔化而從芯中出現碳化后的黑色熔融體，使電容器失效，嚴重時還會弓起電袢器外殼開裂所以。為了提高載流能力，+影啊自愈性能，幻類型抗干擾電容器采用了加厚邊緣的金屬化結構。

　　薄膜蒸發層橫向劃傷也會導致1841變大。當薄膜蒸發層劃傷后，從電容器芯子端面流入的電流改變了流動的路徑，使電容器金屬部分的等效串聯電阻增大。

　　噴金層般是鋅+鋅錫組合層或鋅鋁+鋅錫層，這部分損耗般很小，可以忽略不計。大電容量長引線的電容器，在高頻條件下測試時，由于引線電感的影響，將導致電容器的損耗15明顯增加。采用浸錫紫銅線比浸錫銅包鋼線的同類電容器的城要小很多。

　　3.2.2接觸損耗接觸損耗是噴金層與蒸發層之間引線與噴金層之間的接觸損耗。對于又2類抗干擾電容器來說，這兩個接觸面的接觸損耗的大小將決定電容器在賦能后或耐電壓試驗后，或抽樣脈沖電壓試驗后15的大小和電容器的使用壽命。而且芯子無錯邊噴金粒子太大芯子端面噴金層不完全引線虛焊噴金前芯十端⑴七灰個等都會引起接觸損耗增人而導致培變大，比較終導致秘變大。檢查電容器端面接觸是否可靠，通常的辦法；對電容器進數百次的短路充放電試驗。如試驗前后15變化甚微兌明端面接觸良好；否則，應采取措施改善端面的接觸性。

　　1芯子的錯邊在卷繞金屬化電容器芯子時，兩層薄膜之間應留有定的錯邊，以便噴金時金屬粒子與薄膜的金屬蒸發層有良好的接觸。般的電容器，其錯邊應確保大于定所形成的面和噴金層而連接的。般情況下，蒸發層很薄，就是加厚邊緣也在0.05以，以下，所以噴金層與薄膜上的金屬蒸發層端面只有微弱的連接。如果錯邊太小或無錯邊，只靠噴金粒子與很小的錯邊或蒸發層的端面接觸來連接，電容器耐電壓試驗時，在大電流的作用下，噴金層與蒸發層的某些接觸顆粒點就會燒斷，導致接觸電阻變大，使141變大，從而使15增大。

　　在生產過程中，經常遇到電容器的185100在耐電壓試驗后變大，特別是在脈沖電壓試驗后更大。解剖時發現芯子錯邊很小，或者部分卷繞圈無錯邊，這是由于噴金層與蒸發層的接觸1汰3玄部位碰承受如此尺的電流，使某1很觸點祚屯流2弓線虛焊弓端般是將弓線焊接在芯子的噸金層而引出的，而引線與噴金層之間的焊接質量也會影響電容器的電如果引線虛焊，在后道工序裝外殼或灌注過程中，或成品耐電壓試驗時會導致引線與金屬層脫離，造成電容器的等比較新開發生產。設計侃妾度9001該設備較之普通的網帶式傳送爐具，省電保溫功率1工，產里大以0片子計，每，4小時產比較約18萬片，造價低，占地小等優點本公司可晷戶要塍窯網銀爐印，箱式爐預錫爐及各類干燥設備。

　　成都華電子設抑造有限公司連續式立式燒結爐地址成武核大道占福村皤5，610041電話，28電子元件與材料2001年6月效串聯電阻增大，使1841變大，比較終導致15變大。

　　3噴金層不完全指芯子噴金端面部分沒有噴金層。

　　在大電流的作用下就會出現間隙放電，從而使噴金層與薄膜上大，比較后使噴金層完全脫離導致電容器開路失效。噴金層不完全般是由于芯子掩模紙太寬，在噴金前掩模紙倒邊導致芯子部分端面沒有噴上金屬，或者是噴金后去毛刺時損傷了噴金層，特別是去毛刺損傷噴金層。嚴重時會造成部分區域的噴金層與薄膜上的蒸發層之間的接觸不良，導致接觸電阻增大，從而使15增大。因此，在生產過程中就應盡量避免這種現象出現，且要適當控制噴金層的厚度和去毛刺的時間。

　　⑷灰塵噴金前，如果灰塵飛落在芯子端面上，會導致噴層與薄膜蒸發層之叫的接觸不良火有時是來自周圍環境，有時是來自噴金過程中氧化后的噴金粒子所形成的灰塵。

　　尤其是后者，控制不良，這些灰1就極易飛落到芯子的另端面，或混入噴金層中。由于氧化后的噴金粒子辦，或12，3等都是不導電的絕緣體，旦這些粒子飛落到芯子端面的某點，這點的噴金層與蒸發層就脫離接觸，如果大量的灰塵飛落到芯子端面，就會導致噴金層與蒸發層之間的嚴重接觸不良，使接觸電阻增大，則1相應增大。特別是這樣的電容器經過賦能，或成品耐電壓試驗，或脈沖電壓試驗后，由于芯子端面不能承受如此大的電流的作用，使噴金層與蒸發層之間的坫叫接觸點被燒斷人而進步導致接觸電阻，大史吵相應變大，嚴重時將會導致噴金層完全脫離使電容器開路失效。

　　因此，在噴金過程中就方面應嚴格控制噴槍噴口至芯子之間應避免氧化后的粒子灰塵飛落到芯子端面。

　　4結論，響，0類抗干擾電荇器的電5主要閩素由薄膜介明本訃發膜的方阻以及蒸發膜的橫向劃傷是影響金屬損耗的主要原因。芯子的錯邊噴金粒子的大小噴金前芯子端面上的灰塵和引線冰植響接觸損耗的要素胃尤兒是薄脫的方虬芯+導致電容器經過賦能，或成品耐電壓試驗，或脈沖電壓試驗后185變大的主要原因。因此，在又2類型抗干擾電容器的制造過程中，嚴格控制這些因素是非常必要的。

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